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顆粒分析系統

負責技術員:江秉峵

粒徑分析儀(LISST-100X)    粒徑分析儀(LISST-200X)    水下全相儀

粒徑分析儀(LISST-100X)

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數量:1組

廠牌:Sequoia Scientific, Inc.

型號:LISST-100X

功能:自記式,可搭載於CTD上,量測水層的懸浮物質粒徑數值

量測範圍:1.25 ~250 μm

耐壓深度:300 m

原廠型錄Link

原廠說明書Link

原廠連結Link

 

粒徑分析儀(LISST-200X)

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數量:1組

廠牌Sequoia Scientific, Inc.

型號:LISST-200X

功能:自記式,可搭載於CTD上,量測水層的懸浮物質粒徑數值,分析範圍較LISST-100廣

量測範圍:2.5~500 μm

耐壓深度:600 m

原廠型錄:Link

原廠說明書:Link

原廠連結:Link

 

水下全相儀

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數量:1組

廠牌Sequoia Scientific, Inc.

型號:LISST-Holo2

功能:自記式,可搭載於CTD上,使用同軸數位影像技術重建出整個顆粒的體積輪廓

量測範圍:25~2500 μm

耐壓深度:600 m

原廠型錄:Link

原廠說明書:Link

中文版技術手冊:Link

原廠連結:Link